NI年度盛会：全联结峰会正在报名！LabVIEW、新能源汽车、前沿技术全都有！
最新更新时间：2024-10-29
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本次
NI 全联结峰会以“共赢智能测试未来”为主题，探讨智能测试发展前景，实现途径以及利用生态协作共赢。作为 NI “在中国，为中国”的最新窗口，本次峰会也将集中展示 NI 本土决策+研发新思路，以更快的服务速度和强有力的本土生态及研发伙伴，全面推进中国研发和智造。
峰会包括一场主题演讲和四个专题论坛，分别是：
LabVIEW 与测试测量技术，新能源汽车，半导体，前沿研究（商业航空航天及高校科研等），现场更有40+实例展示，丰富 LabVIEW 社区活动，纵享一整天技术盛宴。
会议时间：
11月12日（周二）
会议地点：
上海国际会议中心（浦东新区陆家嘴滨江大道2727号）
报名方式：
点击立即报名按钮，填写表单即可报名参会
参会好礼
通过
EEWorld 报名、当日到场参会且完成现场签到，方可有机会获得下方报名参会礼（共50份）
注：报名参会礼由 EEWorld 提供，礼品将在活动结束后2周内发放
技术分论坛四大主题
技术盛宴，抢“鲜”一览
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行业大咖“面对面”交流分享
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多款新品发布，现场亲临体验
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30+技术演讲
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40+实例展示
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硬件培训，一探真知
社区互动，出谋划“测”
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LabVIEW 专家交流
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硬件产品答疑解惑
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服务专区
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互动游戏等
主讲嘉宾
Ritu Favre | 艾默生测试与测量业务集团(原NI) 总裁
王承祥
| 东南大学
信息学院执行院长
张莹
| 中汽智联技术有限公司
总经理助理
陈强
| 康卓电子
(无锡)有限公司
运营总监
陈泽源
| 广州慧智微电子股份有限公司
高级研发经理
*更多嘉宾敬请期待
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