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中文文档《16位MCU设计和故障排除基本检查清单》

Microchip 微芯科技
最新更新时间：2024-05-27
    阅读数：

16 位 MCU设计和
故障排除
基本检查清单



简介

16 位dsPIC33和PIC24器件的设计检查清单是Microchip提供的一项增值服务，可在开发过程中为客户提供帮助。今天推荐的文档提供了有关推荐设计方法、常见故障排除问题及其原因以及可能的补救措施的综合指南。


此外还包括以下内容：

  • 与设计相关的典型问题和故障排除

  • 最佳设计实践

  • 参考设计示例

  • ESD、EMI和EFT保护注意事项

  • 典型外设使用问题（ADC、SPI、CAN、LIN、SDHC、UART和USB）

  • PCB布线指南

主要内容

16 位器件设计和故障排除基本检查清单CPU 启动问题

  • VDD 斜率

  • 电源旁路

  • 上电序列

  • 启动和工作期间注入电流

  • 时钟和晶振

意外复位

编程和调试问题

PCB和PIC ® MCU连接

串行数据损坏错误

ADC

  • 典型SAR ADC的总不可调整误差源（TUE）

  • VREF精度

  • 电路IR压降误差

过零检测（ZCD）

I 2 S和按钮保护

I 2 C

  • I 2 C 保护设计要点

进线电源保护

综合PCB布线指南和建议

常见问题解答

点击下方“ 阅读原文 ”查看全文

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