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NI全联结峰会新能源汽车分论坛 | 预约一份汽车测试秘籍

最新更新时间:2024-10-23
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NI全联结峰会将于11月12日在上海盛大开幕,并聚焦LabVIEW和测试测量技术、半导体、新能源汽车、 前沿研究和科研这四大议题设置技术分论坛,NI和生态圈好友将带来众多干货演讲。本文将剧透 新能源汽车 分论坛 的详细内容。


新能源汽车分论坛


11:00~11:30


王晖

主任系统研发工程师

NI,Emerson T&M

演讲主题: 未来驾驶:软件定义汽车(SDV)的测试革命

演讲摘要: 随着汽车行业向软件定义汽车(SDV)转型,市场趋势显示对高度自动化和灵活测试解决方案的需求激增。然而,传统测试方法面临多重挑战,包括复杂的系统集成和快速变化的技术标准。NI通过创新的HIL测试解决方案,致力于应对这些挑战。我们的方案不仅提升了资产利用率和生产力,还改善了团队协作,大幅缩短了设置和配置时间。借助先进的自动化技术和灵活性,NI确保客户能够快速适应市场变化,实现高效、可靠的测试流程,从而加速产品上市,提升竞争优势。

11:30~12:00


郑凯

总经理

苏州瑞地测控技术有限公司

演讲主题 从毫米波雷达测试到域控测试,构建完善的ADAS测试解决方案

演讲摘要: 从物理信号仿真,硬线信号仿真和测试,再到车载以太网及域控单元的测试,瑞地测控为智能网联企业提供完备的测试解决方案;紧缩场测试、DSI3总线协议仿真器、TSN网络交换设备,GMSL视频注入单元等专用测试单元的开发为ADAS从业者提供了便利的测试手段和有效的评价方法。

13:30~14:00

徐磊

资深系统工程师

NI,Emerson T&M

演讲主题: 借助NI测试方案,加速ADAS/自动驾驶开发迭代

演讲摘要: 随着ADAS和自动驾驶技术的迅速发展,如何加速开发迭代成为行业的焦点。此次演讲将分享市场动态和技术趋势,并充分展示NI的全面测试方案,包括数据采集、数据回灌以及HIL测试等。随后将介绍测试方案中关键技术,如数据在线压缩、RDMA直接注入和逆ISP实现,展示这些技术如何提升ADAS/自动驾驶测试的效率和性能。最后,还将展望未来的技术趋势,如集群测试,助力应对更复杂的测试挑战。

14:00~14:30


屠方泽

销售与市场经理

上海众执芯信息科技有限公司

演讲主题: 基于NI平台的车联网与车路协同一体化测试系统

演讲摘要: 车联网测试系统是指用于对车联网技术、设备、应用及服务等进行全面测试的系统。其目的在于通过模拟实际运行环境和各种可能的场景,发现潜在的问题和缺陷,为车联网技术的研发、优化和应用提供可靠的保障。本演讲介绍基于NI平台的车联网测试系统覆盖应用、网络层、消息层、安全层和射频测试。并支持最新发布的强标GB44495-2024《汽车整车信息安全技术要求》。并介绍在实际场景下通过信道模拟器来真实还原外场无线环境。

14:30~15:00


余东海

HIL测试高级经理

杭州迪为科技有限公司

演讲主题 基于NI PXI平台的整车级HIL仿真测试系统

演讲摘要: 随着汽车智能化快速发展,汽车上各系统控制器交互场景相应大幅提高,传统单控制器HIL测试系统已无法满足跨系统测试需求,迪为科技基于NI PXI平台开发出一套整车级HIL测试系统,该系统可实现三电域、底盘域、智驾域和车身域的单一控制器、单域测试,也可联合进行整车级HIL测试。

15:30~16:00


杨堃

半导体大客户经理

NI,Emerson T&M

演讲主题: 宽禁带半导体(SiC)动态可靠性测试的挑战

演讲摘要: 由于其优越的材料特性,宽禁带半导体(WBG)在许多功率应用中正逐步取代传统的硅基器件,其中的热点之一就是SiC上车用作电动汽车逆变器的核心组件,同时带来的问题是如何确保SiC模组的可靠性。本次议题将会介绍在AQG324中新定义了针对WBG的测试方法以及NI SET动态可靠性测试方案,为SiC上车保驾护航。

16:00~16:30


戴留兴

CEO

固势(苏州)科技有限公司

演讲主题 车规级半导体SiC功率模块动静态测试系统

演讲摘要: GS车规级半导体功率模块测试系统是一款针对功率半导体芯片,器件,模块的专用测试设备,系统可针对动静态测试配置不同的输入输出设备,实现IGBT,以及宽禁带半导体SiC,GaN 等功率半导体芯片,器件,模块的动静态参数测试。

系统中仪器仪表采用国际品牌产品,保证测试数据的可靠性,同时为了满足各类测试场景需求,系统中测试驱动电路采用定制化设计,且经过多次迭代,驱动电路整体寄生参数控制行业领先。系统软件采用模块式设计,功能完善,可扩展性强,使用简捷,能适用生产和实验室测试场景。


11大新能源汽车热门Demo

现场将有40+Demo展出,新能源汽车11大热门Demo如下,更多Demo将陆续公开,敬请期待。

  • 基于VTD和NVIDIA Orin的自动驾驶HIL方案

  • 自动驾驶智能摄像头回灌测试系统

  • 车规芯片HIL测试

  • 基于NI平台开发EPS HIL测试系统

  • 车联网测试解决方案

  • 完善的传感器及域控测试解决方案

  • 基于NI的IGBT/SiC的动态测试

  • 使用NI平台进行智能座舱的自动化测试

  • 声音与振动领域的测试测量技术

  • NI电池测试系统

  • NI ETX汽车电子生产测试系统

*Demo以现场展示为准


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