3 月 28 日消息,Introspect Technology 宣布推出全球首个 GDDR7 显存测试系统,支持大规模并行、72 通道、40 Gbps PAM3 ATE-on-Bench 测试,号称可为显存和 GPU 制造商提供最快的上市速度。
Introspect 已经交付了 M5512 GDDR7 显存测试系统,号称是世界上第一个用于测试 JEDEC 全新 JESD239 图形双倍数据速率 (GDDR7) SGRAM 规范的商业解决方案。
该系统使图形显存工程师、GPU 设计工程师、显存和 GPU 领域的产品工程师以及系统集成商能够快速启动新的 GDDR7 显存设备、调试协议错误、表征信号完整性,并执行详细的显存读 / 写功能压力测试,而无需任何其他工具。
固态技术协会 JEDEC 于 3 月 6 日正式发布 JESD239 GDDR7 显存标准,JESD239 GDDR7 提供的带宽是 GDDR6 的两倍,每台设备最高可达 192 GB/s。
JESD239 GDDR7 是第一个使用脉幅调制(Pulse Amplitude Modulation,PAM)接口进行高频操作的 JEDEC 标准 DRAM。其 PAM3 接口提高了高频操作的信噪比(SNR),同时提高了能源效率。通过使用 3 个级别(+1,0,-1)在 2 个循环上传输 3 个比特,而传统的 NRZ(不归零)接口在 2 个周期上传输 2 个比特,PAM3 提供了更高的每循环数据传输速率,从而提高了性能。
M5512 GDDR7 显存测试系统是一款台式测试和测量仪器,它包含 72 个高性能引脚,每个引脚都能够在 PAM3 模式下以 40 Gbps 的速度运行。每个引脚都包含用于执行读写操作的双向电路,并且每个引脚都包含一整套模拟表征功能。
AMD、美光、英伟达、三星、SK 海力士都对 GDDR7 标准表示了支持。三星在英伟达 GTC 2024 大会上展示 GDDR7 显存之后,型号为 K4VAF325ZC-SC32 与 K4VAF325ZC-SC28 的两款显存颗粒现已上线三星半导体官网,分别达 28Gbps / 32Gbps 速率,单颗容量 16Gb。
SK 海力士则表示正在研发速度更快的显存模组,目标定在了更高的 40Gbps。
预计将在年底上市的英伟达 RTX 50 系列显卡将是首批采用 GDDR7 显存的产品。
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