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C-V/I-V 测试将变得更迅速、更简单、更经济
在半导体工业中，用户对于提高测试效率和产能的需求达到了前所未有的水平。快速变更的技术对测试的复杂性和速度提出了更高需求，其目的是为了增加产品可靠性，缩短产品上市时间。吉时利最新的C-V测试系统满足了这一需求。
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- 发布公司：keithley
- 文件大小：436.79 Kb
- 更新时间：2009-12-29 14:46:26
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