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用微分电导测量分析纳米级器件
随着现代电子器件的尺寸不断缩小，研究人员越来越多地依靠纳米技术寻找器件尺寸和功耗的突破。在这些纳米级器件中，电气特性受量子特性的影响。例如，器件电阻通常不是恒定的，而且单次I-V测量不能实现器件电阻的分析。对于纳米级器件，需要在许多点进行详细测量以产生有效的I-V曲线，并绘制微分电导（dG = dI/dV）。
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- 更新时间：2009-12-29 18:06:36
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