简介
JTAG(联合测试动作组)接口是一种标准化接口,用于测试和调试电路板上的数字电路。这个接口由IEEE标准1149.1定义,也被称为Boundary-Scan或ASIC互连测试。JTAG接口的原理图主要包含四种信号线:测试模式选择线(TMS)、测试时钟线(TCK)、测试数据输入线(TDI)和测试数据输出线(TDO)。这四根线形成了一种环状拓扑结构,可以在集成电路上形成一个完整的链,从而实现对芯片内部各个模块的控制和访问。
JTAG接口的主要作用包括测试电路板上数字电路的连接性,包括PCB整体连接情况和IC内部逻辑关系的正确性。此外,JTAG接口还可以实现程序下载、调试和性能分析等功能。对于一些高端芯片,需要使用JTAG接口进行故障排除和修复。
在调试中,JTAG接口有几个应用方面:单步执行,可以通过JTAG接口对芯片进行单步操作,方便逐条程序指令地调试;寄存器观测,可以读取芯片内部各个寄存器的状态,帮助调试人员了解芯片的实时运行情况;变量查看,可以查看程序中各个变量的值,帮助调试人员分析程序错误。
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