用于低噪声电压基准的 775 纳伏噪声测量

使用 Analog Devices 的 LTC6655 的参考设计

设计简介

详细的噪声测试电路。热滞后 Q1-Q2 低噪声 JFET 对由 A1-Q3 进行直流稳定，A2 提供 A = 10,000 前置放大器输出。 A3-A4 形成 0.1Hz 至 10Hz，A = 100，带通滤波器，前置放大器输入的总增益为 106。峰峰值噪声检测器，通过监视示波器扫描门复位，提供 DVM 输出

说明

Detailed noise test circuitry. Thermally lagged Q1-Q2 low noise JFET pair is DC stabilized by A1-Q3, A2 delivers A = 10,000 preamplifier output. A3-A4 form 0.1Hz to 10Hz, A = 100, bandpass filter, total gain referred to pre-amplifier input is 106. Peak-to-peak noise detector, reset by monitoring oscilloscope sweep gate, supplies DVM output

主要特色

Reference Voltage

2.5 V

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更新时间2024-11-09 16:20:34

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